損耗分析-準費米能級檢測儀 參考價：面議
Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀，可視覺化呈現QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、P...
優良光電探測器量子效率與參數分析系統 參考價：面議
APD-QE 采用了光束空間強度技術，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種優良探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測...
Enlitech 光伏電池效率損失分析儀 參考價：面議
光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽能電池研發。QE-RX 不僅可以測量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數據，還可以通過結合分析軟...
光譜響應測試與光電探測器特性分析 參考價：面議
傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應測試與光電傳感器...
光致發光與發光量子產率測試系統 參考價：面議
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統適用測試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發光量...
光電器件響應測量與光偵測器 參考價：面議
PD-RS光電器件響應測量與光偵測器可針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進行光電轉換過程的響應行為測量與分析。
太陽能電池Voc損耗分析儀 參考價：面議
光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路...
雷射掃描缺陷圖譜儀 參考價：面議
激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流（LBIC）測試的升級版本。它利用波長能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體，產生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面，獲得揭示內部...
光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統 參考價：面議
在半導體器件中，不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數極低，產生的光電流信號也極弱。因此，...
光焱科技量子效率測試系統 參考價：面議
光焱科技QE-R量子效率測試系統采用了高效的橢圓反射器，比傳統的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內集成了...
鈣鈦礦太陽能電池瞬態光電流光電壓測試儀 參考價：面議
光電流、開路電壓的瞬態特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程等是新型太陽電池器件的重要參數。由于新型太陽電池器件面積小、光電流小，非常難以準確測量出光...
光焱科技 電致發光效率測試系統 參考價：面議
LQ-50X-EL 光焱科技電致發光效率測試系統 擁有以下幾點特色：采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件、簡便的設計可與手套箱直接整合，能解決目前LE...
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